名称 | 用硅衬底β碳化硅晶体薄膜生长碳化硅单晶体 | ||
公开号 | 1224084 | 公开日 | 1999.07.28 |
主分类号 | C30B19/00 | 分类号 | C30B19/00 |
申请号 | 98112814.9 | ||
分案原申请号 | 申请日 | 1998.01.23 | |
颁证日 | 优先权 | ||
申请人 | 西安理工大学 | 地址 | 710048陕西省西安市金花南路 |
发明人 | 陈治明 | 国际申请 | |
国际公布 | 进入国家日期 | ||
专利代理机构 | 西安理工大学专利事务所 | 代理人 | 杨引雪; 倪金荣 |
摘要 | 本发明利用硅衬底上异质外延的β碳化硅晶体薄膜生长碳化硅单晶体,属于晶体制备技术领域,是针对碳化硅这种难熔、难制晶体提出的一种特殊方法。这种方法把3C-SiC异质外延单晶薄层及其硅衬底作为一体化的液相外延衬底和源,利用硅衬底熔化后溶解石墨坩埚壁形成的碳饱和溶液,实现以β-SiC外延薄膜为籽晶进行的碳化硅晶体单面抛光的低温、低成本生长。由于生长过程只涉及高纯石墨和硅片,可避免升华法生长碳化硅的高度杂质补偿。 |