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碳化硅衬底上具有导电缓冲中间层结构的Ⅲ族氮化物光子器件

关键词 碳化硅衬底 |2010-12-23 00:00:00|行业专利|来源 中国超硬材料网
摘要 名称碳化硅衬底上具有导电缓冲中间层结构的Ⅲ族氮化物光子器件公开号1278949公开日2001.01.03主分类号H0

 

名称 碳化硅衬底上具有导电缓冲中间层结构的Ⅲ族氮化物光子器件 
公开号 1278949  公开日 2001.01.03   
主分类号 H01L33/00  分类号 H01L33/00 
申请号 98811065.2 
分案原申请号   申请日 1998.10.06   
颁证日   优先权 1997.10.7 US 08/944,547 
申请人 克里公司  地址 美国北卡罗莱纳 
发明人 J·A·艾德蒙得;孔华双;K·M·多弗斯派克;M·T·莱昂?  国际申请 PCT.US98/21160 1998.10.6 
国际公布 WO99.18617 英 1999.4.15  进入国家日期 2000.05.11  
专利代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所  代理人 段承恩   
摘要   这里公开了一种具有Ⅲ族氮化物有源层的光电子器件,该器件包括:碳化硅衬底;具有Ⅲ族氮化物有源层的光电子二极管;选自由氮化镓和铟镓氮构成的组中的缓冲结构,该结构位于所说碳化硅衬底和所说光电子二极管间;及应力吸收结构,包括在所说缓冲结构的晶体结构内的多个预定应力释放区,以便所说缓冲结构中产生的应力诱发开裂,发生在所说缓冲层内的预定区域,而非其它区域。 
 

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