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单晶碳化硅薄膜的制造方法及制造设备

关键词 单晶碳化硅薄膜|2010-12-24 00:00:00|行业专利|来源 中国超硬材料网
摘要 名称单晶碳化硅薄膜的制造方法及制造设备公开号1393907公开日2003.01.29主分类号H01L21/08&nb

 

名称 单晶碳化硅薄膜的制造方法及制造设备 
公开号 1393907  公开日 2003.01.29   
主分类号 H01L21/08  分类号 H01L21/08;H01L21/283;H01L21/441;C30B29/36 
申请号 02122817.5   
分案原申请号   申请日 2002.06.06   
颁证日   优先权 [32]2001.6.6[33]JP[31]2001-171126 
申请人 大阪府;星电器制造株式会社    地址 日本大阪府  
发明人 泉胜俊;中尾基;大林义昭;峯啓治    国际申请  
国际公布   进入国家日期  
专利代理机构 上海专利商标事务所    代理人 周承泽   
摘要   一种制造单晶碳化硅薄膜的设备,包括适于接受成膜用的SOI基材100的成膜室200、向成膜室200提供制造单晶碳化硅薄膜所需的各种气体G1-G4的供气装置300、用于处理供给成膜室200的作为惰性气体G1的氩气、作为烃基气体G2 的丙烷气体、作为载气G3的氢气和氧气G4的气体处理装置500和控制成膜室200 温度的温控装置400。
 

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