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官方微信摘要 名称采用碳化硅进行的红外辐射检测公开号1351763公开日2002.05.29主分类号H01L31/0312&nbs
| 名称 | 采用碳化硅进行的红外辐射检测 | ||
| 公开号 | 1351763 | 公开日 | 2002.05.29 |
| 主分类号 | H01L31/0312 | 分类号 | H01L31/0312 |
| 申请号 | 00807852.1 | ||
| 分案原申请号 | 申请日 | 2000.03.20 | |
| 颁证日 | 优先权 | 1999.5.21__US_09/316,239 | |
| 申请人 | 海特朗股份有限公司 | 地址 | 美国内华达州 |
| 发明人 | J·D·帕森斯 | 国际申请 | PCT/US00/07557 2000.3.20 |
| 国际公布 | WO00/72385 英 2000.11.30 | 进入国家日期 | 2001.11.21 |
| 专利代理机构 | 上海专利商标事务所 | 代理人 | 李家麟 |
| 摘要 | 将最好为单晶形式的碳化硅(6)用作具有高温和高功率性能的红外辐射探测器。其应用包括探测来自获取辐射源(2)的功率或能量。 | ||
豫公网安备41019702003646号